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          CN/EN

          SEMICON & OPTO半導體設備

          半導體設備

          晶圓/芯片測試

          ficonTEC T1200 晶圓測試設備

          1. 適應6至12英寸晶圓

          2. 可測試IL/PDL/RF/DC

          3. 晶圓級測試

          4. 光柵耦合/邊耦合測試

          5. 快速耦合 (<1s)

          6. 超高耦合重復性 (<0.1dB)

          7. 設備尺寸: 1200X1200X2000

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